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- [发明专利]待测试产品的序列化处理方法-CN202010703645.7有效
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谭乐;彭召旺;陈虎龙;姬振安
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上海仪电数字技术股份有限公司
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2020-07-21
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2023-10-27
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G06K17/00
- 本发明公开了一种待测试产品的序列化处理方法,该序列化处理方法包括以下步骤:对待测试产品的各个功能点进行产线测试;对通过产线测试的待测试产品,经由待测试产品的存储器的信息检查其是否已经过序列化操作;针对未经过序列化操作的待测试产品,读取其主处理器的芯片识别号;将芯片识别号发送至服务器端,以请求服务器端返回其根据芯片识别号分配的序列化信息;判断待测试产品是否成功获取自服务器端返回的序列化信息;在待测试产品本地执行序列化操作;将表示待测试产品成功通过产线测试以及序列化的成功信息发送至服务器端根据本发明的待测试产品的序列化处理方法,适于数字产品的自动化生产,有助于实现更高的生产效率和更低的成本。
- 测试产品序列处理方法
- [实用新型]测试工装-CN201521087512.2有效
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刘卫彬;扈严涛;谢萍;毛伟殿
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歌尔声学股份有限公司
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2015-12-23
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2016-06-01
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H04R29/00
- 本实用新型提供一种测试工装,包括测试电脑、与测试电脑连接的声卡、与声卡连接的仿真耳,待测试产品与声卡连接;其中,还包括与待测试产品相适配的支撑座,支撑座固定在仿真耳上,待测试产品放置在支撑座内;其中,支撑座为中空结构,在支撑座的端面上设置有与待测试产品相对应的卡槽,在支撑座的侧壁上设置有泄声孔;待测试产品卡设在卡槽内,待测试产品的出声孔与泄声孔通过支撑座的中空结构导通。利用上述实用新型能够在待测试产品与测试工装接吻合不一致的情况下,确保泄露的一致性,提高产品的测试速度和测试精度。
- 测试工装
- [实用新型]治具及测试装置-CN202023203872.8有效
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白文;徐虎
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徐州芯思杰半导体技术有限公司
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2020-12-25
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2021-08-17
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G01B11/00
- 本实用新型涉及测试用具技术领域,具体涉及一种治具及测试装置。测试装置包括光学影像测试仪以及治具,治具固定在光学影像测试仪上,治具包括基座,基座正面形成有用于放置待测试产品的平台,治具还具有贯通基座背面与平台的镂空部,以使得光学影像测试仪通过镂空部对待测试产品的位置进行识别测试治具固定在光学影像测试仪上,以便配合光学影像测试仪对待测试产品进行定位测试,测试时,先将待测试产品放置在基座正面的平台上,然后使用光学影像测试仪从基座背面透过镂空部对待测试产品的位置信息进行获取及判断,以完成待测试产品位置的识别测试,保证待测试产品在组装时的位置精度,通过设置平台,保证待测试产品水平放置。
- 测试装置
- [实用新型]测试适配器-CN202122074330.3有效
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董志永;石学军
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西门子轨道交通设备(天津)有限公司
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2021-08-31
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2022-03-08
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G01R31/52
- 本实用新型涉及测试适配器,包括:操作接口、可编程逻辑控制器、测试模块和连接器,其中,操作接口用于接收用户指令以及显示待测试产品反馈的测试数据,用户指令指示要对待测试产品进行的测试类型;可编程逻辑控制器包括数据输出接口和数据输入接口,数据输出接口被配置为基于来自操作接口的用户指令发送对于待测试产品的控制信号,数据输入接口被配置为接收待测试产品反馈的测试数据;测试模块接收来自数据输出接口的控制信号,并通过相应的连接器发送给待测试产品,以及从相应的连接器接收待测试产品反馈的测试数据,并将测试数据发送给数据输入接口;连接器用于连接待测试产品的接口。
- 测试适配器
- [实用新型]一种指定跌落点的微跌测试装置-CN202221763535.0有效
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吴忠华
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福州市鹭羽智能科技有限公司
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2022-07-08
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2022-10-18
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G01M7/08
- 本实用新型公布一种指定跌落点的微跌测试装置,包括:运动装置,所述运动装置用于抓取待测试产品,以及驱动待测试产品在竖直方向上运动,以及释放待测试产品;控制系统,所述运动装置电连接所述控制系统;跌落测试系统,包括位于运动装置一侧的支撑平台和导向筒,所述导向筒安装至所述支撑平台上,所述导向筒的导向壁的形状与待测试产品的形状相适配,以限位待测试产品,进而引导待测试产品上指定跌落点与支撑平台或导向筒内的底部相碰撞上述技术方案中,指定跌落点的微跌测试装置可以让外观复杂的产品进行每个面或跌落点、有角度的进行跌落测试。
- 一种指定跌落测试装置
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